Avanços nos métodos LIT e LTE de onda completa na análise de linhas de laminas mais complexas

Abstract

Usando dois eficientes métodos exatos de análises, a constante dielétrica efetiva e a impedância característica de novas estruturas de linhas de laminas unilaterais, bilaterais e trilaterais são obtidas. Os métodos consistem em usar as teorias de Linha de Transmissão Transversa e da Linha de Transmissão Equivalente, no domínio espectral com o método dos momentos. As análises são gerais podendo ser aplicadas a qualquer estrutura planar. Resultados numéricos são apresentados para os parâmetros da dispersão característica de linhas de laminas unilaterais tridielétricas, bilaterais e trilaterais, com os dielétricos localizados simétrico e assimetricamente no plano-E do guia de ondas.