Algunos predictores para pruebas de tiempos de falla

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Capa Santos, Holger	es_ES
dc.date.accessioned	2007-11-06T12:43:23Z	es_ES
dc.date.accessioned	2010-09-07T17:45:53Z	es_ES
dc.date.accessioned	2011-03-10T17:34:07Z	-
dc.date.available	2007-11-06T12:43:23Z	es_ES
dc.date.available	2010-09-07T17:45:53Z	es_ES
dc.date.available	2011-03-10T17:34:07Z	-
dc.date.issued	1990-07	es_ES
dc.identifier.uri	http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/9598	es_ES
dc.description.abstract	En este trabajo consideramos una prueba de vida, de tiempo II con censura, (terminología anglosajona) de N elementos cuyos tiempos de vida siguen una ley exponencial y construimos un predictor bayesiano empírico del tiempo en que ocurrirá la r-ésima fallas, habiendo observado la k-ésima, en la misma prueba. Además comparamos este predictor, con respecto a un predictor clásico y a un predictor bayesiano, a través de la simulación	es_ES
dc.language.iso	spa	es_ES
dc.rights	openAccess	-
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	-
dc.subject	PREVISIÓN	es_ES
dc.subject.other	FORECASTING	es_ES
dc.title	Algunos predictores para pruebas de tiempos de falla	es_ES
Appears in Collections:	Jornadas de Ingeniería Eléctrica y Electrónica (FIEE)

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JIEEV24.djvu		87 kB	Unknown	View/Open

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