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Campo DCValorLengua/Idioma
dc.contributor.authorSinche, Soraya L.-
dc.date.accessioned2023-05-17T13:00:50Z-
dc.date.available2023-05-17T13:00:50Z-
dc.date.issued2018-11-
dc.identifier.citationSinche, S. (2018). Guía para evaluar la fiabilidad en redes de comunicaciones. Memorias, XXVIII Jornadas en Ingeniería Eléctrica y Electrónica, 28(18), 134-141.es_ES
dc.identifier.isbn978-9942-35-558-4-
dc.identifier.urihttp://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24032-
dc.description.abstractEl uso de cualquier dispositivo electrónico conectado a Internet, a través de redes de comunicaciones cableadas o inalámbricas, está creciendo día a día. Cada vez más dispositivos como computadoras personales, tabletas, teléfonos móviles, televisores, electrodomésticos, etc. Están siendo conectados en red para permitir que un usuario tenga acceso a una serie de nuevas aplicaciones que faciliten su vida. Sin embargo, a pesar de este crecimiento, en la práctica, un aspecto clave para el óptimo funcionamiento de las plataformas de red que aún se ignora es la fiabilidad. De allí la importancia de conocer cómo se puede evaluar la fiabilidad de una red de comunicaciones. En este contexto, el objetivo principal de este artículo es presentar una guía práctica que permita analizar y evaluar los mecanismos de fiabilidad para escenarios básicos de redes de comunicaciones, usando formulaciones matemáticas basadas en teoría de grafos. El uso de este tipo de análisis ha llegado a ser fundamental en el caso de la evaluación de la fiabilidad de redes. Para este análisis se emplearán modelos non-state-space como RBD (Reliability Block Diagram) y RG/N (Reliability Graphs / Networks).es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherQuito : EPN, 2018.es_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.subjectFIABILIDAD CON GRAFOS (RG/N)es_ES
dc.subjectDIAGRAMAS DE BLOQUE DE FIABILIDAD (RBD)es_ES
dc.subjectTEORÍA DE GRAFOSes_ES
dc.subjectFIABILIDAD DE REDESes_ES
dc.titleGuía para evaluar la fiabilidad en redes de comunicaciones.es_ES
dc.typeArticlees_ES
Aparece en las colecciones:2018 Memorias de las XXVIII Jornadas en Ingeniería Eléctrica y Electrónica (2018 J - FIEE)

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