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http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812
Titel: | PII-DFIS-2019-05 - Estudio de confiabilidad de diodos de potencia basados en tecnología GaN |
Autor(en): | ACURIO MENDEZ, ELIANA MARIBEL |
Erscheinungsdatum: | 2019 |
Beschreibung: | Objetivo general - Realizar estudios de confiabilidad en diodos de potencia (200V y 650V) basados en Nitruro de Galio usando factores de aceleración de voltaje y temperatura para identificar los mecanismos de degradación durante el estado de encendido y determinar si los dipositivos referenciales y sus diferentes variaciones en cuanto materiales y estructura del ánodo alcanzan el tiempo de vida estimado de 10 años. |
URI: | http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812 |
Art: | Other |
Enthalten in den Sammlungen: | 2019 (PI - DFIS - VIIV) |
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