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http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812| Title: | PII-DFIS-2019-05 - Estudio de confiabilidad de diodos de potencia basados en tecnología GaN |
| Authors: | ACURIO MENDEZ, ELIANA MARIBEL |
| Issue Date: | 2019 |
| Description: | Objetivo general - Realizar estudios de confiabilidad en diodos de potencia (200V y 650V) basados en Nitruro de Galio usando factores de aceleración de voltaje y temperatura para identificar los mecanismos de degradación durante el estado de encendido y determinar si los dipositivos referenciales y sus diferentes variaciones en cuanto materiales y estructura del ánodo alcanzan el tiempo de vida estimado de 10 años. |
| URI: | http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812 |
| Type: | Other |
| Appears in Collections: | 2019 (PI - DFIS - VIIV) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
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| PII-DFIS-2019-05-Perfil Aprobado.pdf | 14,28 MB | Adobe PDF | View/Open | |
| PII-DFIS-2019-05-Acta Finalizacion.pdf | 237,22 kB | Adobe PDF | View/Open |
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