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http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812Registro completo de metadatos
| Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | ACURIO MENDEZ, ELIANA MARIBEL | |
| dc.date.accessioned | 2023-09-12T17:03:51Z | - |
| dc.date.available | 2023-09-12T17:03:51Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | |
| dc.identifier.uri | http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812 | - |
| dc.description | Objetivo general - Realizar estudios de confiabilidad en diodos de potencia (200V y 650V) basados en Nitruro de Galio usando factores de aceleración de voltaje y temperatura para identificar los mecanismos de degradación durante el estado de encendido y determinar si los dipositivos referenciales y sus diferentes variaciones en cuanto materiales y estructura del ánodo alcanzan el tiempo de vida estimado de 10 años. | |
| dc.language.iso | es | |
| dc.title | PII-DFIS-2019-05 - Estudio de confiabilidad de diodos de potencia basados en tecnología GaN | |
| dc.type | Other | |
| Aparece en las colecciones: | 2019 (PI - DFIS - VIIV) | |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| PII-DFIS-2019-05-Perfil Aprobado.pdf | 14,28 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir | |
| PII-DFIS-2019-05-Acta Finalizacion.pdf | 237,22 kB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
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