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http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/9598
Registro completo de metadatos
Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
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dc.contributor.author | Capa Santos, Holger | es_ES |
dc.date.accessioned | 2007-11-06T12:43:23Z | es_ES |
dc.date.accessioned | 2010-09-07T17:45:53Z | es_ES |
dc.date.accessioned | 2011-03-10T17:34:07Z | - |
dc.date.available | 2007-11-06T12:43:23Z | es_ES |
dc.date.available | 2010-09-07T17:45:53Z | es_ES |
dc.date.available | 2011-03-10T17:34:07Z | - |
dc.date.issued | 1990-07 | es_ES |
dc.identifier.uri | http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/9598 | es_ES |
dc.description.abstract | En este trabajo consideramos una prueba de vida, de tiempo II con censura, (terminología anglosajona) de N elementos cuyos tiempos de vida siguen una ley exponencial y construimos un predictor bayesiano empírico del tiempo en que ocurrirá la r-ésima fallas, habiendo observado la k-ésima, en la misma prueba. Además comparamos este predictor, con respecto a un predictor clásico y a un predictor bayesiano, a través de la simulación | es_ES |
dc.language.iso | spa | es_ES |
dc.rights | openAccess | - |
dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | - |
dc.subject | PREVISIÓN | es_ES |
dc.subject.other | FORECASTING | es_ES |
dc.title | Algunos predictores para pruebas de tiempos de falla | es_ES |
Aparece en las colecciones: | 1990 Anales de las XI Jornadas en Ingeniería Eléctrica y Electrónica (1990 J - FIEE) |
Ficheros en este ítem:
Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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1990AJIEE-23.pdf | 225,8 kB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
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