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http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812
Título: | PII-DFIS-2019-05 - Estudio de confiabilidad de diodos de potencia basados en tecnología GaN |
Autor: | ACURIO MENDEZ, ELIANA MARIBEL |
Fecha de publicación: | 2019 |
Descripción: | Objetivo general - Realizar estudios de confiabilidad en diodos de potencia (200V y 650V) basados en Nitruro de Galio usando factores de aceleración de voltaje y temperatura para identificar los mecanismos de degradación durante el estado de encendido y determinar si los dipositivos referenciales y sus diferentes variaciones en cuanto materiales y estructura del ánodo alcanzan el tiempo de vida estimado de 10 años. |
URI: | http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812 |
Tipo: | Other |
Aparece en las colecciones: | 2019 (PI - DFIS - VIIV) |
Ficheros en este ítem:
Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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