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Título: PII-DFIS-2019-05 - Estudio de confiabilidad de diodos de potencia basados en tecnología GaN
Autor: ACURIO MENDEZ, ELIANA MARIBEL
Fecha de publicación: 2019
Descripción: Objetivo general - Realizar estudios de confiabilidad en diodos de potencia (200V y 650V) basados en Nitruro de Galio usando factores de aceleración de voltaje y temperatura para identificar los mecanismos de degradación durante el estado de encendido y determinar si los dipositivos referenciales y sus diferentes variaciones en cuanto materiales y estructura del ánodo alcanzan el tiempo de vida estimado de 10 años.
URI: http://bibdigital.epn.edu.ec/handle/15000/24812
Tipo: Other
Aparece en las colecciones:2019 (PI - DFIS - VIIV)

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